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    日本電子推出透射電鏡用最簡單的制樣設備

    透射電鏡的樣品制備非常關鍵，但卻非常麻煩，且需要很好的經(jīng)驗，對于一些例如含有軟硬兼有成分的樣品，幾乎無法制備。針對這種情況，日本電子株式會社開發(fā)出了一步到位式離子制樣儀EM-09010IS，它使用氬離子切割樣品，實際上就是一臺超小型的FIB。EM-09010IS的出現(xiàn)對于透射電鏡的樣品制備可以說是革命性的進步。從制備步驟來講，只需將樣品簡單切薄，就可立即裝入；從操作性上來講，沒有透射電鏡樣品制備經(jīng)驗的人也可以得到完美的薄區(qū)，從使用上來講，對于軟硬混合的樣品，得心應手，還不會給脆性樣品帶來應力破壞；另外，由于切割角度可以隨意調整，還可以為EBSD和AEM提供完美的樣品制備；從運行成本來講，EM-09010IS用的氬源比FIB用的鎵源便宜的多。北京工業(yè)大學張澤院士領導的研究小組已經(jīng)安裝了一臺該設備。目前EM-09010IS只提供給日本電子株式會社透射電鏡的用戶，詳情請咨詢日本電子株式會社各地辦事處。