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近日，一種“基于步進掃描的光調制反射光譜方法及裝置”近日獲得國家知識產權局專利授權。該專利由中科院上海技術物理研究所邵軍、陸衛等科研人員發明。

該裝置包括傅立葉變換紅外光譜測量系統、作為泵浦光源的激光器、以及聯結傅立葉變換紅外光譜儀中探測器與電路控制板的鎖相放大器和低通濾波器，置于樣品與激光器之間光路上的斬波器，從而使連續泵浦激光變為調制激光，并饋入鎖相放大器的輸入參考端來控制鎖相。該方法使用上述裝置進行光調制反射光譜測量，包括消除泵浦光的漫反射信號以及泵浦光產生的光致發光信號的干擾；消除傅立葉頻率和增強中、遠紅外波段微弱光信號的探測能力三個功能。

經過對分子束外延生長GaNxAs1-x/GaAs 單量子阱樣品和Ga1-xInxP/AlGaInP多量子阱材料的光調制反射光譜實際測試。表明本發明顯著提高探測靈敏度和光譜信噪比，并具有快速、便捷的優點，特別適用于中、遠紅外光電材料微弱光特性的檢測。