美國吉時利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）今日宣布將舉辦2010年度新能源與新材料測試技術全國巡回研討會。巡回研討會將從9月初開始，在成都、重慶、合肥、南京、哈爾濱、武漢、蘭州舉辦。網(wǎng)絡報名即時啟動，詳情請登陸鏈接：http://www.keithley.cn/edm/10/roadshow/pr
身為新興測量需求解決方案領導者，吉時利長期致力于不斷推出新產品、新技術和新方法，以滿足高精度、高速度、高靈敏度和分辨率的測試測量需求，成為新工藝、新材料、新產品的質量保證。
吉時利資深技術應用工程師將與出席本次巡展的客戶、合作伙伴和技術愛好者深入交流如下主要領域的技術與解決方案：
綠色電子革命中的光電測試/新能源測試方案
伴隨光電產業(yè)尤其是光通訊領域技術與應用不斷創(chuàng)新和發(fā)展，對高精度、低成本、高產能的光電測試解決方案的需求日益增強。針對實現(xiàn)可再生能源的相關熱點話題，吉時利技術專家將在研討會中重點介紹光電二極管（LIV）測試系統(tǒng)利用最新的測試技術提高測試產能并降低測試成本，確保器件的可靠性和質量；精密太陽能測試解決方案，實現(xiàn)快速而全面的新型太陽能材料特征分析；最新LED測試系統(tǒng)（和外部機械手如何配合）以實現(xiàn)更高的準確度、可靠性和經(jīng)濟效益。
新材料的測試方案
不斷出現(xiàn)的新材料、大功率器件推動測試方式和測試儀器改變和升級，高品質電氣測量是新材料和器件的發(fā)展的質量保證。吉時利儀器在為納米技術提供電氣測量解決方案領域居世界領先水平，該新興研究領域將為電子、材料、生物工程、替代能源等多個領域帶來巨大進步。吉時利技術專家將分享其測量工具如何憑籍無可比擬的性能優(yōu)勢，幫助納米技術研究人員觀察到幾年前不可能觀察到的現(xiàn)象，逐步揭開納米領域的奧秘并最終促進納米技術從實驗室研究走向商用產品。研討議題將包括最大限度提高納米材料特征分析能力，霍爾效應（Hall Effect）測量主題，如何確定半導體的參數(shù)，例如載流子移動性和載流子濃度、霍爾系數(shù)、以及電導率和導電類型，脈沖材料測試及MOS典型參數(shù)的測試方法。
微弱信號測量難點與應對方案
吉時利微弱信號測量領域的深厚理論功底和超過六十年的設計經(jīng)驗，得以為全球高校、公司、政府實驗室提供新材料和新器件領域的研究提供解決方案。針對如何正確地進行微弱信號測量，以達到對微弱電信號進行捕獲和定量分析目的，本次研討會重點講授進行全面的電子測試并提高測試產能所必需的基本測試原理，更加合理的進行微弱信號測量，應對測試中常見的問題和挑戰(zhàn)，例如如何避免噪聲干擾，減小測試誤差等，及提高測試質量、獲取更精確數(shù)據(jù)、采集更可靠的測試結果的方法和技巧。
多路數(shù)據(jù)采集和高速度/高精度測試方案
針對電子產品的多樣性和日益增強的測試要求，靈活、易拓展的多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，吉時利數(shù)字萬用表/數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)滿足研發(fā)用戶對精確度和靈敏度的需要，以及生產過程測試的高產能需求。本次研討會將通過典型實例如電源老化測試系統(tǒng)及多引腳IC插座測試系統(tǒng)為您提供高速度高精度測試解決方案，展示應用在研發(fā)實驗室或生產現(xiàn)場的吉時利各種規(guī)格的測量解決方案，涵蓋從插件板到具有多點測量與控制功能的外部系統(tǒng)產品。
吉時利2010巡回研討會日期及地點：
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