6月17日獲悉，中科院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所“一種畸變測試儀”獲得國家發(fā)明專利授權(quán)，專利號為“ZL200810151034.5”
任何光學(xué)系統(tǒng)都難以做到完善成像的要求，只是像差的大小不同而已。光學(xué)系統(tǒng)存在畸變將直接影響成像目標(biāo)的幾何位置精度。因此，對于精密測量相機(jī)，如航空測量相機(jī)等，畸變的大小對相機(jī)測量精度具有決定性的因素。為了得到準(zhǔn)確的幾何位置圖像，相機(jī)在進(jìn)行光學(xué)設(shè)計時不僅要盡可能對畸變進(jìn)行校正，而且要對實際光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精密的畸變量測定，以便提供在使用中的修正值。
目前國內(nèi)檢測畸變的方法都采用目標(biāo)圖案板測量畸變，即在被測光學(xué)系統(tǒng)像面處安裝標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)版，并將光學(xué)系統(tǒng)固定在精密轉(zhuǎn)臺回轉(zhuǎn)中心，在被測光學(xué)系統(tǒng)物方用望遠(yuǎn)鏡觀察網(wǎng)絡(luò)版經(jīng)鏡頭所成的像，并用轉(zhuǎn)臺記錄每個像高對應(yīng)的角度。根據(jù)望遠(yuǎn)鏡測出的像高及轉(zhuǎn)臺記錄的角度值，計算被測光學(xué)系統(tǒng)畸變。但這種方法存在測量精度低，安裝調(diào)試工作復(fù)雜、結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定、測試效率低，對被測系統(tǒng)工作波段要求較高，測試數(shù)據(jù)記錄費時費力等缺點。
西安光機(jī)所研制發(fā)明的“一種畸變測試儀”包括轉(zhuǎn)臺、光源以及顯微成像系統(tǒng)。所述光源以及顯微成像系統(tǒng)處于同于光軸上并置于轉(zhuǎn)臺兩側(cè)。該測試儀提供了一種測量精度高、效率高、結(jié)構(gòu)穩(wěn)定且功能可以擴(kuò)展的畸變測試儀，可以解決上述技術(shù)問題。
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