原子力顯微鏡（AFM） 用原子力顯微鏡，分別對原子力顯微鏡探針針尖和被測樣品表面涂復帶有某種基團或官能團的高分子化合物（例CH3-,-COOH,-OH等），之后，當用探針針尖和被測樣品表面接觸時，即可測出帶不同基團（或官能團）的高分子鏈間的“粘合力”，從而可以某種程度地定量方式表征這種聚合物高分子間的相互作用情況。
