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高分子在界面上的構象行為 |
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| 資料類型： |
JPG圖片格式
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| 關鍵詞： |
高分子表征 石英晶體微天平 表面等離子體共振 固-液界面 高分子刷 |
| 資料大小： |
98KB |
| 所屬學科： |
分子表征 |
| 來源： |
來源網絡 |
| 簡介： |
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界面上高分子的構象行為對于界面的物理和化學性質至關重要。目前，對于高分子在界面上的構象行為特別是動態行為的表征仍面臨許多挑戰。本文中，作者利用帶有耗散測量功能的石英晶體微天平（QCM-D）和表面等離子體共振儀（SPR）等界面表征手段，對固體表面接枝中性高分子鏈、聚電解質鏈及兩性聚電解質鏈的構象行為進行了系統研究。研究結果表明，QCM-D 的頻率變化反映接枝高分子鏈的質量變化或接枝高分子層的厚度變化，而耗散因子變化則反映接枝高分子鏈的結構變化。SPR 共振單元變化與接枝高分子層的厚度和折光指數密切相關。此外，研究結果還表明，通過改變外界條件，如溫度、溶劑、離子強度及離子種類等，可以調節高分子在界面上的構象行為，從而控制界面性質。 |
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| 上傳人： |
liuyh
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| 上傳時間： |
2013-11-20 17:09:03 |
| 下載次數： |
0 |
| 消耗積分： |
2
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