水平樣品幾何中子反射譜儀的中子光路的調(diào)整機構(gòu)
發(fā)明/申請人：張紅霞，袁光萃，程賀，韓志超
專利號/申請?zhí)枺?01120105951.7
授權(quán)/申請日期：2012-10-12
本發(fā)明涉及水平樣品幾何中子反射譜儀的中子光路的調(diào)整機構(gòu)。所述調(diào)整機構(gòu)包括入射升降機構(gòu)和反射升降機構(gòu)；沿著入射中子的光路方向，第一入射狹縫座、入射中子飛行管和第二入射狹縫座依次安裝在入射升降機構(gòu)上；沿著反射中子的光路方向，第一反射狹縫座、反射中子飛行管和第二反射狹縫座依次安裝在反射升降機構(gòu)上。本發(fā)明的調(diào)整機構(gòu)能夠高精度地調(diào)整所述狹縫和中子飛行管的位置，并能夠?qū)崿F(xiàn)高精度改變中子束的入射角和反射角，獲取高分辨率的散射矢量，且中子束的入射角范圍達-5°～9°，中子束的反射角范圍達-5°～9°，使得測量的散射矢量范圍加大。同時，在入反射角范圍內(nèi)，樣品能夠始終對準(zhǔn)中子束。