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一種高分子比色納米薄膜材料及其制備方法以及用于Fe3+和焦磷酸根檢測方面的應用

發明/申請人：于明明、張文英、李占先、石彩霞、周婉、魏柳荷
專利號/申請號：ZL201510292665.9
授權/申請日期：2018-8-4
制備了一種高分子薄膜，該薄膜可以比色檢測三價鐵離子和焦磷酸根離子

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