writer：郭擁軍，馮茹森,，薛新生，李愛輝 ，孫懷宇
keywords：分子設(shè)計，單體合成，膠束自由基聚合，紅外光譜，紫外光譜
source：期刊
Issue time：2007年
以進(jìn)一步提高耐溫抗鹽性能和降低所引入疏水基團(tuán)的負(fù)面影響為設(shè)計目標(biāo)，設(shè)計了主鏈采用 C—C鍵連接、剛性的苯環(huán)結(jié)構(gòu)作為間隔基團(tuán)、采用—O—鍵連接聚合物的主鏈和疏水基團(tuán)的新型疏水締合聚合物的分子結(jié)構(gòu)；通過合理選擇疏水基團(tuán)、間隔基團(tuán)和鍵接方式，設(shè)計出了滿足分子間締合比例要求的非離子型疏水單體 ANPE（Allyl-（4-Nonyl）Pheny Ether）；采用相轉(zhuǎn)移催化法，且以低毒性的丙酮代替苯作為有機(jī)溶劑合成了疏水單體ANPE；對AM、AA 和疏水單體ANPE 進(jìn)行三元膠束共聚合，獲得了分子間高締合比例疏水締合聚合物（ANPE-HAWP）；紅外和紫外表征譜圖證明了疏水單體ANPE 和疏水締合聚合物（ANPE-HAWP ）的分子結(jié)構(gòu)。