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   11月4~5日，表面高靈敏度光譜學國際研討會在天津大學舉行，來自中國、奧地利、德國、意大利、羅馬尼亞和墨西哥等國專家學者以高靈敏度光譜學為切入點，就表面的光學表征技術與科學應用研究，特別是納米尺度光學表征學和新型材料與功能結構等前沿領域的科學發展進行深入、廣泛的學術研討。

   開幕式上，大會中方主席天津大學原副校長、儀器科學與技術學科負責人胡小唐教授和外方主席約翰斯開普勒大學Peter Zeppenfeld教授分別致辭，在回顧了近十年來依托各方優勢所開展的緊密合作和取得的豐碩成果之后，共同希望本次會議能夠成為高端技術、科學應用和基礎研究三方學者共同探討，開拓思路，建立深層次合作平臺的一次會議，從而促進應用研究與基礎研究的進一步融合。

   德國耶拿大學固體物理研究所Torsten Fritz教授、意大利羅馬第三大學Olivia Pulci教授、德國萊布尼茲技術大學物理系Georgeta Salvan教授等9位學者作了精彩的特邀報告。天津大學精密儀器與光電子工程學院胡春光副教授也應邀在大會作了特邀報告。

   本次會議由天津大學和奧地利約翰斯開普勒大學聯合發起，天津大學測試計量技術及儀器國家重點實驗室承辦。會議得到中國國家自然科學基金委、奧地利歐亞太平洋大學聯盟組織（Eurasia-Pacific Uninet）、王寬誠教育基金會、微米/納米科學與技術創新引智基地等官方機構和學術組織的聯合資助。